本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62341-6-1:2009。 采标中文名称:有机发光二极管显示器 第6-1部分：光学和光电参数测试方法。

现行 / 全国电子显示器件标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

本标准修改采用ISO国际标准：ISO 21254-1:2011。 采标中文名称:激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第1部分：定义和总则。

现行 / 全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会 / 中国兵器工业集团公司 /

本标准修改采用ISO国际标准：ISO/TR 21254-4:2011。 采标中文名称:激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第4部分：检查、探测和测量。

现行 / 全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会 / 中国兵器工业集团公司 /

现行 / 全国真空技术标准化技术委员会 / 中国机械工业联合会 /

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61747-6-2:2011。 采标中文名称:液晶显示器件 第6-2部分：液晶显示模块测试方法 反射型。

现行 / 全国电子显示器件标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 61747-30-1:2012。 采标中文名称:液晶显示器件 第30-1部分：液晶显示模组测试方法 透过特性。

现行 / 全国电子显示器件标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62341-6-3:2017。 采标中文名称:有机发光二极管显示器件 第6-3部分：图像质量测试方法。

现行 / 全国电子显示器件标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

本标准修改采用ISO国际标准：ISO 14880-2：2006。 采标中文名称:光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法。

现行 / 全国光学和光子学标准化技术委员会电子光学系统分会 / 中国机械工业联合会 /

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-27：2012。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）。

即将实施 / 全国半导体器件标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

废止 / 全国剧场标准化技术委员会 / 文化和旅游部(文化) /

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60706-5:1994。 采标中文名称:。

废止 / 全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会 / 工业和信息化部（电子） /

本标准等同采用其他国际标准：IEEE Std 43:2000。 采标中文名称:IEEE推荐旋转电机绝缘电阻试验规程。

现行 / 全国大型发电机标准化技术委员会 / 中国电器工业协会 /

现行 / 全国齿轮标准化技术委员会 / 国家标准化管理委员会 /

现行 / 工业和信息化部（电子） / 工业和信息化部（电子） /

现行 / 工业和信息化部（电子） / 工业和信息化部（电子） /

现行 / 工业和信息化部 / 无 / 通信

现行 / 国家林业局 / 无 / 林业

现行 / 信息产业部 / 无 / 通信

现行 / 国家能源局 / 无 / 电力

现行 / 国家食品药品监督管理局 / 无 / 医药