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标准号：GB/T 17473.2-1998

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中文标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

英文标准名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
标准状态：废止 推荐性

基础信息

  • 中国标准分类号（CCS）：H21
  • 国际标准分类号（ICS）：77.040.01
  • 标准类别：方法
  • 执行单位：全国有色金属标准化技术委员会
  • 发布日期：1998-08-19
  • 实施日期：1999-03-01
  • 主管部门：中国有色金属工业协会
  • 归口部门：中国有色金属工业协会

其它信息

  • 起草单位：主要起草单位 昆明贵金属研究所 。
  • 温馨提示：本系统所提供的电子文本仅供参考，请以正式标准出版物为准。

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