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标准号：GB/T 4937.35-2024

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中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

英文标准名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
标准状态：即将实施 推荐性

基础信息

  • 中国标准分类号（CCS）：L40
  • 国际标准分类号（ICS）：31.080.01
  • 标准类别：方法
  • 执行单位：工业和信息化部（电子）
  • 发布日期：2024-03-15
  • 实施日期：2024-07-01
  • 主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 归口部门：工业和信息化部（电子）

其它信息

  • 采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-35:2006。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查。
  • 起草单位：主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。
  • 温馨提示：本系统所提供的电子文本仅供参考，请以正式标准出版物为准。

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