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国家标准
详细
标准号:GB/T 44791-2024
3 浏览
中文标准名称:
集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求
英文标准名称:
Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-thining process and evaluation
标准状态:
即将实施
推荐性
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基础信息
中国标准分类号(CCS):
L55
国际标准分类号(ICS):
31.200
标准类别:
基础
执行单位:
全国集成电路标准化技术委员会
发布日期:
2024-10-26
实施日期:
2025-05-01
主管部门:
工业和信息化部(电子)
归口部门:
工业和信息化部(电子)
其它信息
起草单位:
主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所 、神州龙芯智能科技有限公司 。
温馨提示:
本系统所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。
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{{item.modname}}
{{item.title}}
{{item.introduce}}
{{item.addtime}}
{{item.hits}}
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