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标准号：GB/T 42968.2-2024

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中文标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

英文标准名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
标准状态：现行 推荐性

基础信息

  • 中国标准分类号（CCS）：L56
  • 国际标准分类号（ICS）：31.200
  • 标准类别：方法
  • 执行单位：全国集成电路标准化技术委员会
  • 发布日期：2024-10-26
  • 实施日期：2024-10-26
  • 主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 归口部门：工业和信息化部（电子）

其它信息

  • 采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010。 采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。
  • 起草单位：主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、中国汽车工程研究院股份有限公司 、安徽中认倍佳科技有限公司 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、深圳市北测标准技术服务有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、天津先进技术研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、中国家用电器研究院 、重庆邮电大学 、北京星河亿海科技有限公司 、浙江诺益科技有限公司 、中国信息通信研究院 、重庆仕益产品质量检测有限责任公司 、北京邮电大学 、东莞职业技术学院 。
  • 温馨提示：本系统所提供的电子文本仅供参考，请以正式标准出版物为准。

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